半导体镀层分析仪 自动休眠 测量 穿透力强

镀层测厚仪要求

1、不破坏的测量下具高精密度。

2、小的测定面积。

3、中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。

4、同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜。

5、同时测量双合金的镀膜厚及成份。

镀层测厚仪在使用前为减少测量的误差，可以进行简单的调零。用附送的铝或者铁调零板调零即可。调零方法：

1、将探头垂直按压在调零板中间的位置，保持探头的稳定。

2、按下按键，屏幕会提示压紧探头，再根据提示把探头提起15cm以上。

3、屏幕显示0.0则调零完毕。

4、完成后，可以把有标准值的测试片放在调零板上测量。测量的数值与标准测试片的误差范围之内，则说明仪器可以正常使用了。

镀层测厚仪采用了电涡流原理以及霍尔效应测量的原理。主要用于测量金属以及非金属等基体上的油漆层、电镀层等非磁性材料的厚度。可以无损的测量出涂镀层的厚度。

广泛应用在电镀、喷涂、管道防腐、铝型材、钢结构、印刷线路版、及丝网印刷等行业中。特别适合用于生产现场的质量管控。

镀层测厚仪因为采用的是主机与探头分离式的设计，所以在购买时有两个不同量程的探头可以选择。F5N3的探头，大量程厚可以测到5mm，F3N3的探头，厚可以测到3mm。

在测量以mm为单位的镀层厚度时，大量程的镀层测厚仪LS223就可以满足您的测量需求。客户在选购时可以根据测量材料的厚度来选择相应的探头。镀层测厚仪90天无理由退换货，不满意都可以退。

我们全体员工以饱满的热情，期待与五湖四海的新老朋友合作。一直秉承满足用户需求，至真至诚，着眼现在，放眼未来的经营理念。